準確分析含鍍層貴金屬成分，X射線熒光專利技術輕松搞定！
發(fā)布時間:2022-09-20 閱讀次數(shù)：705次
金屬首飾生產(chǎn)公司質(zhì)檢部門的內(nèi)部會議中，針對近期的貴金屬首飾分析問題正在進行熱烈的討論，似乎他們遇到了難題，到底是什么呢？一起來看看！
EDX專利技術解決難題
島津分析中心申請的中國發(fā)明專利《一種含鍍層貴金屬成分的X射線熒光光譜分析方法》（ZL 2019 1 0867000.4已獲得國家知識產(chǎn)權(quán)局授權(quán)），專利技術為含鍍層貴金屬樣品成分的無損檢測提供了解決方案。
樣品中的構(gòu)成元素經(jīng)過光源X射線激發(fā)后，發(fā)出特征熒光X射線，元素含量與熒光X射線強度之間存在著函數(shù)關系。基本參數(shù)法使用靈敏度系數(shù)f為校正因子，靈敏度系數(shù)為測試強度和理論強度的比值（f=I測/I理），使用貴金屬標準樣品進行校準。金屬鍍層對貴金屬基體元素的熒光強度存在不同程度的影響，常規(guī)貴金屬分析方法中理論強度的計算沒有考慮鍍層的影響，按照常規(guī)貴金屬分析方法計算的分析結(jié)果會產(chǎn)生偏差。專利技術引入了含鍍層貴金屬元素的理論強度算法，修正了鍍層元素對貴金屬基體組成元素理論強度的影響，使得原有的函數(shù)關系仍然成立，校正了含鍍層貴金屬基體成分的分析結(jié)果。一次分析，就可以得到鍍層厚度、基材貴金屬成分的結(jié)果。
應用案例分享
取含銠鍍層貴金屬樣品（以黃金鍍銠樣品為例），分別使用常規(guī)分析條件（常規(guī)）、專利分析條件（專利）分析含銠鍍層黃金樣品，統(tǒng)計比較測試結(jié)果，評估鍍層對測試結(jié)果的影響及專利分析條件的修正效果。
表1 對比測試結(jié)果
常規(guī)&專利測試方法的分析誤差比較見圖2 。
圖2 不同方法分析誤差比較
由上可以看出，（常規(guī)）分析含銠鍍層黃金樣品，黃金中貴重金屬元素Au的結(jié)果偏差較大，并隨著鍍層厚度的增加，分析偏差值呈現(xiàn)加大的趨勢。采用（專利）分析含銠鍍層黃金樣品，分析結(jié)果與參考值結(jié)果一致，表明專用分析條件（專利）對含銠鍍層黃金樣品分析結(jié)果有很好的修正效果，可以實現(xiàn)無損的快速分析。
另外，常規(guī)方法只能分析成分，專利分析方法可以同時測試出鍍層厚度和基材成分。
常規(guī)方法分析結(jié)果
專利方法分析結(jié)果
分析利器
島津EDX系列儀器有EDX-7000、EDX-7200、EDX-8000、EDX-8100、EDX-LE Plus，島津EDX系列儀器都可以應對包含鍍層的基體貴金屬成分分析，以常見型號EDX-7000為例。
EDX-7000能量色散型X射線熒光光譜儀特點
EDX-7000能量色散型X射線熒光分析儀
結(jié)語
利用島津EDX系列儀器，可以對含鍍層的貴金屬基體成分進行定量分析，利用軟件算法修正鍍層對基體組成元素分析結(jié)果的影響，利用標準樣品校準系數(shù)，提高了分析結(jié)果的準確度。專用分析條件（專利）分析結(jié)果表明，該方法具有快速、無損、經(jīng)濟、準確等諸多優(yōu)點。含鍍層貴金屬成分準確分析，專利技術助力輕松搞定！
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