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SPD-M40 i-PDeA Ⅱ(解卷積)功能操作流程

發(fā)布時間:2024-12-25 閱讀次數(shù):339次

引言

解卷積是一種通過對數(shù)據(jù)進行數(shù)學處理來還原樣品色譜圖信息的過程。在LC-40系列中,SPD-M40檢測器擁有了i-PDeA Ⅱ(解卷積)功能。

i-PDeA Ⅱ(Intelligent Peak Deconvolution Analysis Ⅱ)是對光電二極管陣列(PDA)檢測器數(shù)據(jù)應用化學計量的MCR-ALS(Multivariate Curve Resolution with Alternating Least Squares)法,從未分離的峰內(nèi)提取目標峰的數(shù)據(jù)分析方法。

未能通過色譜柱完全分離時也能準確定量,可在分析具有相同分子量的異構體等情況下使用。也可以對分離后的數(shù)據(jù)進行光譜識別。

智能峰解卷積功能,可實現(xiàn)共流出化合物的智能分離。如下圖所示:

1.png


i-PDeA Ⅱ(解卷積)功能操作流程

該功能操作簡便,可在LabSolutions再解析功能中直接處理數(shù)據(jù),具體操作流程如下:

1、在再解析中,打開PDA檢測器的數(shù)據(jù),單擊方法視圖內(nèi)的【編輯】按鈕后,在方法視圖的【多色譜圖】標簽內(nèi)單擊Ch1的【類型】。

2.png

2、設置截取波長210nm和帶寬4nm,勾選去卷積,并根據(jù)目標峰的洗脫時間設置去卷積條件(時間:1.6-2min,波長:自動)。

3.png


3、單擊方法視圖內(nèi)的【視圖】按鈕。程序將執(zhí)行去卷積和積分。

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以上,就是該功能的操作流程,希望本文對您的工作有所幫助。